Development of a DPI-C Test Environment
Fruto da evolução tecnológica, a integração de sistemas com milhares de milhões de transístores num único circuito integrado conduziu a um aumento da complexidade dos projetos digitais. Consequentemente, o esforço/tempo necessário para o desenvolvimento destes ´e maior, tal como a probabilidade da e...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | masterThesis |
| Language: | eng |
| Published: |
2021
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10400.22/14105 |
| Country: | Portugal |
| Oai: | oai:recipp.ipp.pt:10400.22/14105 |