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Costa, M. F. M., & Teixeira, V. M. P. (2011). Residual stress measurement in PVD optical coatings by microtopography.

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Costa, Manuel F. M., and Vasco M. P. Teixeira. Residual Stress Measurement in PVD Optical Coatings by Microtopography. 2011.

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Costa, Manuel F. M., and Vasco M. P. Teixeira. Residual Stress Measurement in PVD Optical Coatings by Microtopography. 2011.

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