Costa, M. F. M., & Teixeira, V. M. P. (2011). Residual stress measurement in PVD optical coatings by microtopography.
Citação norma ChicagoCosta, Manuel F. M., and Vasco M. P. Teixeira. Residual Stress Measurement in PVD Optical Coatings by Microtopography. 2011.
Citação norma MLACosta, Manuel F. M., and Vasco M. P. Teixeira. Residual Stress Measurement in PVD Optical Coatings by Microtopography. 2011.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.