Projecto para o Teste e Depuração com Base nas Arquitecturas IEEE 1149.1 e 1149.4
A infraestrutura Boundary Scan Test (BST), definida na norma IEEE 1149.1, tem sido tradicionalmente utilizada para o teste estrutural de Cartas de Circuito Impresso (CCI) na fase de produção [1, 2]. O seu aparecimento deveu-se, entre outras razões, à crescente dificuldade das tradicionais tecnologia...
| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | |
| Formato: | conferenceObject |
| Idioma: | por |
| Publicado em: |
2017
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| Assuntos: | |
| Texto completo: | http://hdl.handle.net/10400.22/9737 |
| País: | Portugal |
| Oai: | oai:recipp.ipp.pt:10400.22/9737 |