Advanced technics of automatic inspection based on x-ray and image processing

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Bruno Daniel Vieira de Pinho (author)
Formato: masterThesis
Idioma:eng
Publicado em: 2018
Assuntos:
Texto completo:https://hdl.handle.net/10216/113968
País:Portugal
Oai:oai:repositorio-aberto.up.pt:10216/113968