Sistema de teste de transístores bipolares de junção e de efeito de campo

O estudo das curvas características de um transístor permite conhecer um conjunto de parâmetros essenciais à sua utilização tanto no domínio da amplificação de sinais como em circuitos de comutação. Deste estudo é possível obter dados em condições que muitas vezes não constam na documentação forneci...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Tavares, Jorge Paulo Nunes (author)
Format: masterThesis
Language:por
Published: 2013
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10400.22/2641
Country:Portugal
Oai:oai:recipp.ipp.pt:10400.22/2641