Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações

Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Bento, David (author)
Other Authors: Cidre, Diana (author), Lima, José (author), Dias, Ricardo P. (author), Lima, R. (author)
Format: conferenceObject
Language:por
Published: 2014
Subjects:
Online Access:http://hdl.handle.net/10198/10687
Country:Portugal
Oai:oai:bibliotecadigital.ipb.pt:10198/10687