Método automático para a medição da espessura camada de plasma em microcanais com bifurcações
Ao longo dos anos, a espessura da camada de plasma tem sido determinada com o auxílio de métodos manuais. Apesar destes métodos serem bastante fiáveis, estes são morosos e podem introduzir erros do utilizador nos dados. No presente trabalho, foi desenvolvido um método automático de processamento de...
| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | , , , |
| Formato: | conferenceObject |
| Idioma: | por |
| Publicado em: |
2014
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| Assuntos: | |
| Texto completo: | http://hdl.handle.net/10198/10687 |
| País: | Portugal |
| Oai: | oai:bibliotecadigital.ipb.pt:10198/10687 |