A Loosely-Coupled Arm and RISC-V Locksteping technology

Dissertação de mestrado integrado em Engenharia Eletrónica Industrial e Computadores (área de especialização em Sistemas Embebidos e Computadores)

Bibliographic Details
Main Author: Marques, Ivo da Cruz (author)
Format: masterThesis
Language:eng
Published: 2020
Subjects:
Design diversity
DCLS
Redundancy
Fault tolerance
Diversidade de desenho
Redundância
Tolerância a falhas
Engenharia e Tecnologia::Engenharia Eletrotécnica, Eletrónica e Informática
Online Access:http://hdl.handle.net/1822/72785
Country:Portugal
Oai:oai:repositorium.sdum.uminho.pt:1822/72785

Internet

http://hdl.handle.net/1822/72785

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