Aplicação do modelo de Kubelka-Munk à análise de filmes semicondutores
Com este trabalho, pretendeu-se efectuar a caracterização de algunsparâmetros ópticos de filmes semicondutores, recorrendo a medidas dereflectância difusa, com o objectivo principal de determinar a energia de hiatodesses materiais. Desenvolveu-se um algoritmo computacional com base no modelo de Kube...
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | masterThesis |
| Idioma: | por |
| Publicado em: |
2011
|
| Assuntos: | |
| Texto completo: | http://hdl.handle.net/10773/2632 |
| País: | Portugal |
| Oai: | oai:ria.ua.pt:10773/2632 |