Defect Characterization With Eddy Current Testing Using Nonlinear-Regression Feature Extraction and Artificial Neural Networks

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Rosado, Luis (author)
Outros Autores: Janeiro, Fernando M. (author), Ramos, Pedro M. (author), Piedade, Moisés (author)
Formato: article
Idioma:eng
Publicado em: 2013
Assuntos:
Artificial neural networks (ANNs)
defect parameter estimation
eddy current testing (ECT)
feature extraction
nonlinear regression
Texto completo:http://hdl.handle.net/10174/9619
País:Brasil
Oai:oai:dspace.uevora.pt:10174/9619

Texto Completo

http://hdl.handle.net/10174/9619

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