Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | article |
| Publicado em: |
2021
|
| Assuntos: | |
| Texto completo: | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.114000 |
| País: | Brasil |
| Oai: | 003020831 |
| Autor principal: | Guazzelli, Marcilei A. (author) |
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| Formato: | article |
| Publicado em: |
2021
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| Assuntos: | |
| Texto completo: | https://doi.org/10.1016/j.microrel.2020.114000 |
| País: | Brasil |
| Oai: | 003020831 |