Lourenço, P., Fantoni, A., Costa, J., & Vieira, M. (2019). Lithographic mask defects analysis on an MMI 3 dB splitter.
Citação norma ChicagoLourenço, Paulo, Alessandro Fantoni, João Costa, and Manuela Vieira. Lithographic Mask Defects Analysis on an MMI 3 DB Splitter. 2019.
Citação norma MLALourenço, Paulo, et al. Lithographic Mask Defects Analysis on an MMI 3 DB Splitter. 2019.
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