Development of a DPI-C Test Environment

Fruto da evolução tecnológica, a integração de sistemas com milhares de milhões de transístores num único circuito integrado conduziu a um aumento da complexidade dos projetos digitais. Consequentemente, o esforço/tempo necessário para o desenvolvimento destes ´e maior, tal como a probabilidade da e...

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Vieira, Orlando Pedro Cardoso (author)
Formato: masterThesis
Idioma:eng
Publicado em: 2021
Assuntos:
Synopsys
IPK
DPI-C
C-test
Hardware
Validação
Validation
Automação e Sistemas
Texto completo:http://hdl.handle.net/10400.22/14105
País:Portugal
Oai:oai:recipp.ipp.pt:10400.22/14105

Texto Completo

http://hdl.handle.net/10400.22/14105

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