Structural and magnetic characterization of LaBaMnO3 thin films
Com o presente trabalho pretende-se efectuar uma comparação entre filmes finos de LaBaMnO3 crescidos por sputtering em substratos de Al2O3 e MgO. 3 deposições foram efectuadas com variação do tempo de deposição, originado espessuras entre 10 e 70 nm. Filmes crescidos no substrato Al2O3 apresentam um...
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | masterThesis |
| Idioma: | eng |
| Publicado em: |
2011
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| Assuntos: | |
| Texto completo: | http://hdl.handle.net/10773/3664 |
| País: | Portugal |
| Oai: | oai:ria.ua.pt:10773/3664 |