Kachkanov, V., Dolbnya, I., O'Donnell, K., Lorenz, K., Pereira, S., Watson, I., . . . Parbrook, P. (1000). Characterisation of III-nitride materials by synchrotron X-ray microdiffraction reciprocal space mapping.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Kachkanov, Vyacheslav, et al. Characterisation of III-nitride Materials by Synchrotron X-ray Microdiffraction Reciprocal Space Mapping. 1000.
Citação MLA (8ª ed.)Kachkanov, Vyacheslav, et al. Characterisation of III-nitride Materials by Synchrotron X-ray Microdiffraction Reciprocal Space Mapping. 1000.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.