Análise computacional de defeitos intersticiais em nanocristais de Si

Neste trabalho são estudadas diferentes propriedades de defeitos intersticiais em silício cristalino e nanocristais de silílico. Os modelos são baseados na teoria do funcional da densidade. Numa fase inicial são feitos testes de convergência para escolher parâmetros de modelação, em particular as fu...

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Ferreira, Artur Filipe Sucena Martins (author)
Formato: masterThesis
Idioma:por
Publicado em: 2013
Assuntos:
Texto completo:http://hdl.handle.net/10773/10133
País:Portugal
Oai:oai:ria.ua.pt:10773/10133