Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores

Bibliographic Details
Main Author: Mafalda Vieira Giesta (author)
Format: masterThesis
Language:por
Published: 2021
Subjects:
Online Access:https://hdl.handle.net/10216/134950
Country:Portugal
Oai:oai:repositorio-aberto.up.pt:10216/134950
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