Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Mafalda Vieira Giesta (author)
Formato: masterThesis
Idioma:por
Publicado em: 2021
Assuntos:
Texto completo:https://hdl.handle.net/10216/134950
País:Portugal
Oai:oai:repositorio-aberto.up.pt:10216/134950
Descrição
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