Correia, F. C., Bundaleski, N., Teodoro, O. M. N. D., Correia, M. R., Rebouta, L., Mendes, A., & Tavares, C. J. (2018). XPS analysis of ZnO: Ga films deposited by magnetron sputtering: substrate bias effect.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Correia, Filipe Costa, N. Bundaleski, Omnd M. N. D. Teodoro, M. R. Correia, L. Rebouta, A. Mendes, e C. J. Tavares. XPS Analysis of ZnO: Ga Films Deposited by Magnetron Sputtering: Substrate Bias Effect. 2018.
Citação MLA (8ª ed.)Correia, Filipe Costa, et al. XPS Analysis of ZnO: Ga Films Deposited by Magnetron Sputtering: Substrate Bias Effect. 2018.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.