Citação norma APA

Correia, F. C., Bundaleski, N., Teodoro, O. M. N. D., Correia, M. R., Rebouta, L., Mendes, A., & Tavares, C. J. (2018). XPS analysis of ZnO: Ga films deposited by magnetron sputtering: substrate bias effect.

Citação norma Chicago

Correia, Filipe Costa, N. Bundaleski, Omnd M. N. D. Teodoro, M. R. Correia, L. Rebouta, A. Mendes, and C. J. Tavares. XPS Analysis of ZnO: Ga Films Deposited by Magnetron Sputtering: Substrate Bias Effect. 2018.

Citação norma MLA

Correia, Filipe Costa, et al. XPS Analysis of ZnO: Ga Films Deposited by Magnetron Sputtering: Substrate Bias Effect. 2018.

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