Macedo, F., Carvalho, P., Cunha, L., Vaz, F., Gibkes, J., Bein, B. K., & Plezl, J. (2009). The role of modulated IR radiometry measurements in the characterization of Zr-O-N thin films.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Macedo, Francisco, Pedro Carvalho, L. Cunha, F. Vaz, Juergen Gibkes, Bruno K. Bein, e Josef Plezl. The Role of Modulated IR Radiometry Measurements in the Characterization of Zr-O-N Thin Films. 2009.
Citação MLA (8ª ed.)Macedo, Francisco, et al. The Role of Modulated IR Radiometry Measurements in the Characterization of Zr-O-N Thin Films. 2009.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.