Macedo, F., Carvalho, P., Cunha, L., Vaz, F., Gibkes, J., Bein, B. K., & Plezl, J. (2009). The role of modulated IR radiometry measurements in the characterization of Zr-O-N thin films.
Citação norma ChicagoMacedo, Francisco, Pedro Carvalho, L. Cunha, F. Vaz, Juergen Gibkes, Bruno K. Bein, and Josef Plezl. The Role of Modulated IR Radiometry Measurements in the Characterization of Zr-O-N Thin Films. 2009.
Citação norma MLAMacedo, Francisco, et al. The Role of Modulated IR Radiometry Measurements in the Characterization of Zr-O-N Thin Films. 2009.
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