Brown, M. R. (2020). Outlier detection in lithography: Benchmarking and the creation of a new algorithm.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Brown, Monika Rose. Outlier Detection in Lithography: Benchmarking and the Creation of a New Algorithm. 2020.
Citação MLA (8ª ed.)Brown, Monika Rose. Outlier Detection in Lithography: Benchmarking and the Creation of a New Algorithm. 2020.
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