Método combinado de observação em microscópia óptica e electrónica de varrimento para estudo de palinomorfos

Apresenta-se método combinado de observação que permite o estudo do mesmo palinomorfo recorrendo aos microscópios óptico e electrónico de varrimento. Muitas vezes, a simples observação dos palinomorfos ao microscópio óptico e/ou electrónico não são suficientes para identificar e caracterizar as dife...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Vieira,M. (author)
Other Authors: Zetter,R. (author), Castro,L. (author), Pais,J. (author), Pereira,D. (author)
Format: article
Language:por
Published: 2009
Subjects:
Online Access:http://scielo.pt/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1647-581X2009000100008
Country:Portugal
Oai:oai:scielo:S1647-581X2009000100008