Ramos, P. M., Janeiro, F. M., & Radil, T. (2010). Comparison of Impedance Measurements in a DSP using Ellipse-fit and Seven-Parameter Sine-fit Algorithms.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Ramos, Pedro M., Fernando M. Janeiro, e Tomas Radil. Comparison of Impedance Measurements in a DSP Using Ellipse-fit and Seven-Parameter Sine-fit Algorithms. 2010.
Citação MLA (8ª ed.)Ramos, Pedro M., et al. Comparison of Impedance Measurements in a DSP Using Ellipse-fit and Seven-Parameter Sine-fit Algorithms. 2010.
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