Chen, Q., Bory, B. F., Kiazadeh, A., Rocha, P. R. F., Gomes, H. L., Verbakel, F., . . . Meskers, S. C. J. (2013). Opto-electronic characterization of electron traps upon forming polymer oxide memory diodes.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Chen, Q., Benjamin F. Bory, Asal Kiazadeh, Paulo R. F. Rocha, Henrique L. Gomes, F. Verbakel, Dago M. De Leeuw, e S. C. J. Meskers. Opto-electronic Characterization of Electron Traps upon Forming Polymer Oxide Memory Diodes. 2013.
Citação MLA (8ª ed.)Chen, Q., et al. Opto-electronic Characterization of Electron Traps upon Forming Polymer Oxide Memory Diodes. 2013.
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