Chen, Q., Bory, B. F., Kiazadeh, A., Rocha, P. R. F., Gomes, H. L., Verbakel, F., . . . Meskers, S. C. J. (2013). Opto-electronic characterization of electron traps upon forming polymer oxide memory diodes.
Citação norma ChicagoChen, Q., Benjamin F. Bory, Asal Kiazadeh, Paulo R. F. Rocha, Henrique L. Gomes, F. Verbakel, Dago M. De Leeuw, and S. C. J. Meskers. Opto-electronic Characterization of Electron Traps upon Forming Polymer Oxide Memory Diodes. 2013.
Citação norma MLAChen, Q., et al. Opto-electronic Characterization of Electron Traps upon Forming Polymer Oxide Memory Diodes. 2013.
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