Rolo, A. G., Vasilevskiy, M., Conde, O., & Gomes, M. J. M. (1998). Structural properties of Ge nano-crystals embedded in SiO2 films from X-ray diffraction and Raman spectroscopy.
Citação norma ChicagoRolo, Anabela G., Mikhail Vasilevskiy, O. Conde, and M. J. M. Gomes. Structural Properties of Ge Nano-crystals Embedded in SiO2 Films from X-ray Diffraction and Raman Spectroscopy. 1998.
Citação norma MLARolo, Anabela G., et al. Structural Properties of Ge Nano-crystals Embedded in SiO2 Films from X-ray Diffraction and Raman Spectroscopy. 1998.
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