Aplicação do modelo de Kubelka-Munk à análise de filmes semicondutores
Com este trabalho, pretendeu-se efectuar a caracterização de algunsparâmetros ópticos de filmes semicondutores, recorrendo a medidas dereflectância difusa, com o objectivo principal de determinar a energia de hiatodesses materiais. Desenvolveu-se um algoritmo computacional com base no modelo de Kube...
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | masterThesis |
| Language: | por |
| Published: |
2011
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| Subjects: | |
| Online Access: | http://hdl.handle.net/10773/2632 |
| Country: | Portugal |
| Oai: | oai:ria.ua.pt:10773/2632 |