Casteleiro, C., Schwarz, R., Mardolcar, U., Maçarico, A., Martins, J., Vieira, M., . . . Gomes, H. L. (2014). Spatially-resolved photocapacitance measurements to study defects in a-Si: H based p-i-n particle detectors.
Citação do estilo Chicago (17ª ed.)Casteleiro, C., et al. Spatially-resolved Photocapacitance Measurements to Study Defects in A-Si: H Based P-i-n Particle Detectors. 2014.
Citação MLA (8ª ed.)Casteleiro, C., et al. Spatially-resolved Photocapacitance Measurements to Study Defects in A-Si: H Based P-i-n Particle Detectors. 2014.
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