Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits

Com a crescente demanda por produtos eletrônicos de consumo de alta complexidade, o mercado necessita de um rápido ciclo de desenvolvimento de produto com baixo custo. O projeto de equipamentos eletrônicos baseado no uso de núcleos de propriedade intelectual ("IP cores") proporciona flexib...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Negreiros, Marcelo (author)
Format: doctoralThesis
Language:eng
Published: 2007
Subjects:
Eletrônica
Testes : Circuitos integrados
Analog testing
Analog BIST
RF test
Low cost analog test
Online Access:http://hdl.handle.net/10183/6225
Country:Brazil
Oai:oai:www.lume.ufrgs.br:10183/6225

Internet

http://hdl.handle.net/10183/6225

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