Desenvolvimento e análise comparativa de soluções para teste funcional de memória DRAM em testador automático industrial versus testador manual de bancada

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Bibliographic Details
Main Author: Jaeger, Gabriel Antônio (author)
Format: masterThesis
Language:por
Published: 2020
Subjects:
ACCNPQ::Engenharias::Engenharia Elétrica
Memórias SDRAM DDR4
Teste Elétrico Funcional
Algoritmos de Teste
Cobertura de Falhas
Análise de Falhas
SDRAM DDR4 Memories
Functional Electrical Test
Test Algorithms
Fault Coverage
Failure Analysis
Online Access:http://www.repositorio.jesuita.org.br/handle/UNISINOS/9066
Country:Brazil
Oai:oai:www.repositorio.jesuita.org.br:UNISINOS/9066
Description
Summary:Submitted by JOSIANE SANTOS DE OLIVEIRA (josianeso) on 2020-02-17T13:55:57Z No. of bitstreams: 1 Gabriel Antônio Jaeger_.pdf: 6709257 bytes, checksum: f4b389f325aed272c358c51a9393c497 (MD5)

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